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参加2023年CLEO——张金旭
发布时间：2023-05-09
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2023年5月9日，博士生张金旭参加2023 Conference on Lasers and Electro–Optics (CLEO)，进行主题为Film thickness measurement on transparent substrate based on spectral interference ellipsometry的报告，报告以poster presentation的形式进行。
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